我司新推出的时域热反射测量系统可用于测量金属薄膜、块体或液体的热导率、界面热阻等多项热物性参数，薄膜测量厚度可达纳米量级！在微纳结构新材料的研发与分析等方面得以越来越广泛的应用。
系统通过利用飞秒激光照射样品表层金属薄膜，令薄膜吸收能量并将其转化为热能， 从而传导给样品，并随时间尺度逐渐向样品传递。金属薄膜表面温度随时间回落，从而影响到其反射率。届时再通过测量另一束探测激光的反射强度曲线，通过后续一系列的解调分析，即可得到金属薄膜温度随时间的变化，进而获得被测样品的导热特性和相关热物性参数等。
时域热反射测量系统 (TDTR 测试系统）产品特点：
超快动态测量过程，nm级厚度样品测量
各项异性热导率测量
纳米材料界面热阻材料（石墨烯合金等界面热阻测量）
高温高压外场测量（Gpa 高压环境 1000℃ 外场环境兼容）
TDTR 测试系统https://www.chem17.com/st361024/product_36270798.html
http://www.auniontech.com.cn/SonList-2281260.html
